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泰勒霍普森表面粗糙度儀DUO測量信息
點擊次數(shù):17 更新時間:2025-05-12
測量原理
DUO 粗糙度儀運用接觸式測量原理,配備耐磨的金剛石測針部件與精密的機動驅(qū)動裝置。儀器運行時,測針在電機驅(qū)動下,以穩(wěn)定速度于被測物體表面移動,以此確保行進正確的水平距離。當測針劃過表面波峰與波谷時,高感應度的壓電傳感器能夠敏銳捕捉測針的垂直移動,并將機械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。這些電子信號經(jīng)數(shù)字化處理后,被傳送至微處理器,運用標準化算法即時計算出表面粗糙度參數(shù)。該測量方式不僅保障了測量的準確性,其堅固耐磨的金剛石測針與壓電傳感器組合,還確保了測量結(jié)果具備較高可靠性,能適應多種復雜測量場景。
DUO 粗糙度儀功能較為全面,只需輕松按下一鍵,就能快速測量多個關(guān)鍵的表面粗糙度參數(shù),如 Ra(輪廓算術(shù)平均偏差)、Rz(微觀不平度十點高度)、Rp(輪廓最大峰高)、Rv(輪廓最大谷深)以及 Rt(輪廓最大高度)等。這些參數(shù)會清晰地顯示在儀器配備的 2.4 英寸直觀 LCD 彩色屏幕上,屏幕顯示亮度較高,即便在不同光線環(huán)境下,使用者也能清楚讀取測量數(shù)據(jù),為現(xiàn)場測量工作帶來極大便利。